Aparato de cuarzo Cuarzo fundido Portador de obleas semiconductoras ultrafinas

Lugar de origen Shandong
Nombre de la marca ZKTD
Certificación SGS, ISO
Número de modelo Producción original
Cantidad de orden mínima 1 PCS
Precio USD 50-150 /Pcs
Detalles de empaquetado Caja de madera, cartones, algodón perlado
Tiempo de entrega 5 a 8 días hábiles
Condiciones de pago Las tarifas de los productos incluidos en el anexo I se aplicarán a los productos incluidos en el an
Capacidad de la fuente 100 piezas / semana
Datos del producto
Tamaño OEM Cantidad mínima de pedido 1 Uds.
Nombre Portador de obleas de semiconductores
Resaltar

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portador ultra fino de la oblea de semiconductor

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portador ultra fino de la oblea de silicio del semiconductor

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Descripción de producto

Aparatos de cuarzo Fusionado Cuarzo semiconductor portador de obleas Ultra delgado


Características del producto:

Limpios y limpios,

Alta homogeneidad

Resistente a altas temperaturas

Alta transmisión de la luz

Ataque químico


Temperatura de trabajo:

Temperatura de trabajo regular: 1000°C

Temperatura de trabajo a corto plazo:1100°C

temperatura máxima de trabajo instantánea:1300°C


Propiedad mecánica:

Propiedad mecánica Valor de referencia Propiedad mecánica Valor de referencia
Densidad 2.203 g/cm3 Indice de refracción 1.45845
Fuerza de compresión. >El valor de las emisiones de CO2 Coeficiente de expansión térmica 5.5×10-7 cm por centímetro.°C
Resistencia a la flexión El contenido de CO2 Temperatura de trabajo en caliente 1750 ~2050°C
Resistencia a la tracción 48.3Mpa La temperatura durante un corto tiempo 1300°C
La proporción de Poisson 0.14 ~0.17 La temperatura durante mucho tiempo 1100°C
Modulo elástico Las demás partidas de la caja de carga Resistencia 7×107Ω.cm
Módulo de afeitado El valor de las emisiones es el siguiente: Resistencia dieléctrica 250 ~400Kv/cm
Dureza de las polillas 5.3 ~6.5(Escala de polillas) Constante dieléctrica 3.7 ~3.9
Punto de deformación 1280°C Coeficiente de absorción dieléctrica El valor de las emisiones de CO2
Calor específico350°C) 670 J/kg°C Coeficiente de pérdida dieléctrica El valor de las emisiones de CO2
Conductividad térmica°C) 1.4 W/m°C


Aparato de cuarzo Cuarzo fundido Portador de obleas semiconductoras ultrafinas 0

Aparato de cuarzo Cuarzo fundido Portador de obleas semiconductoras ultrafinas 1