Substrato de sílice fundido rectangular de 150 mm 5x3.2 mm Base del portador óptico de muestras

El sustrato rectangular de sílice fundida de 150 mm es una plataforma de cuarzo de tira larga de precisión fabricada con sílice fundida de alta pureza mediante procesamiento integrado, libre de burbujas, estrías y piedras. Con una dimensión total de 150 x 5 x 3.2 mm, este sustrato extendido y engrosado ofrece una mayor rigidez y un mejor rendimiento anti-flexión que las placas delgadas estándar, lo que lo hace adecuado para aplicaciones exigentes de pruebas ópticas y espectrales. Las superficies rectificadas y pulidas con precisión ofrecen alta planitud y paralelismo, mientras que el material proporciona una transmitancia uniforme desde el rango ultravioleta hasta el infrarrojo. Combinado con un coeficiente de expansión térmica ultrabajo y una excelente resistencia a altas temperaturas, ácidos y álcalis, el sustrato mantiene una geometría estable y un comportamiento óptico limpio incluso bajo choque térmico, lo que lo convierte en una base portamuestras confiable para sistemas de medición de precisión.

• Procesamiento integrado sin defectos: El cuerpo de sílice fundida de alta pureza está libre de burbujas, estrías y piedras, lo que garantiza una calidad óptica constante en todo el sustrato.
• Superficie rectificada y pulida de precisión: Se mantienen alta planitud y paralelismo en toda la longitud de 150 mm, proporcionando un plano de referencia estable para la medición.
• Transmitancia uniforme de UV a IR: El sustrato transmite la luz de manera uniforme en un amplio espectro, sin interferencia de luz parásita para pruebas ópticas.
• Coeficiente de expansión térmica ultrabajo: La deformación mínima bajo cambios de temperatura, combinada con alta resistencia a la temperatura, ácidos y álcalis, previene el agrietamiento bajo choque térmico.
• Bordes biselados de precisión: Los cuatro bordes están suavemente redondeados sin astillas ni rebabas, protegiendo los componentes ópticos y a los operarios durante la manipulación.

El sustrato rectangular de sílice fundida de 150 mm cumple múltiples funciones en sistemas de inspección óptica, espectral y de precisión. Se utiliza comúnmente como base portamuestras para pruebas espectrales, proporcionando una plataforma limpia, plana e inerte químicamente que no interfiere con los resultados de la medición. En fibra óptica, el sustrato funciona como un sustrato de posicionamiento para el acoplamiento de fibra, manteniendo las fibras y los elementos ópticos en una alineación precisa. La placa también actúa como un espaciador de trayectoria óptica para equipos ópticos, manteniendo un espaciado preciso entre los componentes en la trayectoria de la luz. Para aplicaciones de detección a alta temperatura, funciona como un sustrato transmisor de luz que permanece estable bajo estrés térmico. Además, el sustrato se adopta como una placa portamuestras estándar para inspección de imágenes de precisión, ofreciendo una superficie de referencia confiable para verificaciones dimensionales y de calidad de superficie.

• Diseño extendido y engrosado: La estructura reforzada ofrece mayor rigidez y rendimiento anti-flexión, manteniendo el sustrato plano durante el uso prolongado.
• Tolerancia dimensional estricta: El estricto control de tamaño garantiza una consistencia estable en lotes de producción en masa, simplificando el reemplazo y la intercambiabilidad.
• Personalización completa disponible: El pulido de una o dos caras, el esmerilado exterior, el ranurado, la perforación y el recubrimiento óptico se pueden adaptar a los requisitos del cliente.
• Sin precipitación de impurezas a alta temperatura: El material limpio de alta pureza no contaminará los componentes ópticos, lo que lo hace adecuado para todo tipo de equipos de prueba óptica de precisión.